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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorPaz Enrique, Luis Ernesto-
dc.contributor.authorJalil Vélez, Nadya Judafeet-
dc.contributor.authorGarcía Salmon, Luís Alberto-
dc.contributor.authorMera Leones, Rosa Marina-
dc.contributor.authorMawyin Ceballos, Francisco Antonio-
dc.date.accessioned2023-02-02T21:11:20Z-
dc.date.available2023-02-02T21:11:20Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.urihttp://repxos.contraloria.gob.cu/jspui/handle/repxos_cgr/396-
dc.descriptionCada año la producción de conocimientos aumenta. La recuperación de fuentes publicadas debe realizarse con mayor exhaustividad, fundamentalmente aquellas ubicadas en los últimos años y que se encuentran en bases de datos de prestigio a nivel internacional.Es imprescindible para la obtención de un resultado de tal magnitud la construcción de una base de datos bibliográfica, aunque el acceso a algunas bases de datos internacionales pudiera constituir una limitante para algunos investigadores. Los estudios métricos tienen como propósito el control y análisis de gran cantidad de documentos existentes en las diferentes áreas del saber. Abarcan un grupo de disciplinas de diverso campo: infometría o informetría, cienciometría, patentometría bibliometría, y altmetrics archivonometría,(métricas webmetría, alternativas).en_US
dc.description.abstractCada año la producción de conocimientos aumenta. La recuperación de fuentes publicadas debe realizarse con mayor exhaustividad, fundamentalmente aquellas ubicadas en los últimos años y que se encuentran en bases de datos de prestigio a nivel internacional.Es imprescindible para la obtención de un resultado de tal magnitud la construcción de una base de datos bibliográfica, aunque el acceso a algunas bases de datos internacionales pudiera constituir una limitante para algunos investigadores. Los estudios métricos tienen como propósito el control y análisis de gran cantidad de documentos existentes en las diferentes áreas del saber. Abarcan un grupo de disciplinas de diverso campo: infometría o informetría, cienciometría, patentometría bibliometría, y altmetrics archivonometría,(métricas webmetría, alternativas).en_US
dc.language.isoesen_US
dc.publisherFeijóoen_US
dc.subjectrevistas científicasen_US
dc.subjectfuentesen_US
dc.subjectbibliometríaen_US
dc.subjecthistoriaen_US
dc.subjectcomunicaciónen_US
dc.subjectsociologíaen_US
dc.subjectarchivonometríaen_US
dc.subjectvisibilidaden_US
dc.titleCalidad de revistas científicas. Variables, indicadores y acciones para su diagnósticoen_US
dc.typeLibroen_US
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